2010年5月12~13日,由《电子产品世界》杂志社主办,中国电子国际展览广告有限公司承办的第三届国际测试与仪器应用论坛在北京德宝饭店隆重召开。论坛上汇集了来自国内外的顶尖测试测量厂商以及众多企事业的工程师和科研院所的专家学者。
在5月12日的开幕式上,《电子产品世界》杂志社执行社长陈秋娜女士做了简短的开幕致辞,对目前国内外国防电子测试业的现状和热点加以陈述,也引申出此次论坛的意义所在。归根结底,这将是《电子产品世界》这样一个优质的平台,为测试测量厂商和寻求高品质、高性能的测试测量仪器的工程师和研究者搭建交流和沟通的桥梁。《电子产品世界》杂志主编王莹女士也和广大参会者共同分享了自己4月下旬参加美国Globalpress公司举办的一年一度的全球电子峰会时收获的美国电子业界的最新信息,其中要义是美国的电子厂商都在积极需求差异化产品开发,同时不断提高自己优势技术的技术门槛并重视产权保护,从而巩固公司的市场地位。
来自安捷伦科技(中国)有限公司的高级市场工程师阚先胜先生和与会者交流了目前军用电子技术的发展趋势、由此引领的测试仪表的发展方向以及安捷伦的应对之策。随后,罗德与施瓦茨中国有限公司产品工程师卫东先生就R&S微波信号源分析与计量技术提出了看法。北京普源精电科技有限公司、凌华科技股份有限公司、北京航天测控技术、美国国家仪器有限公司及美国力科公司等的代表就各自的主题进行了详细演讲。
(本刊记者 淡 蓝)
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