专为以下工程师度身定制：
　　- 想用PXI平台和模块化仪器创建ATE测试平台
　　- 对系统的定时和同步要求严格
　　- 需要更进一步了解NI模块化仪器产品及应用详细内容
　　
　　
　　您将通过本场研讨会：
　　- 了解在创建基于PXI的ATE测试系统时需要考虑的事项
　　- 学习常用配置、编程难点以及如何克服这些难点
　　
　　涉及的产品包括：
　　2输入/2输出 24位动态信号采集与生成设备
　　200 MHz 信号发生器
　　200 MHz 高速数字化仪
　　数字万用表和开关
　　射频测量设备
　　
　　时间与地点：　　
　　2月24日 14:00-17:00 宁波大酒店7楼会见厅（宁波市中山东路145号）
　　3月4日 14:00-17:00 深圳荔园酒店6楼大会议厅（深圳红岭中路1018号）
　　3月7日 14:00-17:00 东莞银城酒店三楼B2室（东莞市南城区莞太大道48号）
　　3月22日 14:00-17:00 北京知春路25号天鸿科园大酒店3楼鸿运厅二厅
　　3月24日 14:00-17:00 浙江国际大酒店5楼影视厅（杭州下城区体育场路221号）
　　3月24日 14:00-17:00 天津河西区友谊路28号水晶宫饭店2楼天子阁
　　3月29日 14:00-17:00 石家庄中山西路145号河北世纪大饭店4楼锦澜厅
　　在两个小时的研讨会中，NI主讲工程师将现场穿插不同的应用演示，帮助您进一步理解基于PXI的ATE测试平台优势所在。
　　
　　* 为了帮助您从本次研讨会中取得最大的收获，我们建议您先期参加如下NI研讨会或预先具备相应知识为宜：
　　- 基于计算机技术的测量与自动化系统
　　- LabVIEW
　　-了解示波器、万用表、信号源的基本运作
　　
　　 　　　　　　　　　　　　
　　了解更多有关LabVIEW的详细信息，请访问ni.com/china/labview。或与NI上
　　
　　海分公司联系：上海市曲阳路800号商务大厦6楼（200437），电话:(021)65557838，传真:(021）65556244，E-mail：china.info@ni.com。免
　　
　　费咨询电话：800 820 3622
　　
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